硅片測試檢測_硅片測試檢測報告
高分子材料硅片測試檢測機構哪家好？上海百檢網第三方硅片測試檢測平臺，匯聚全國800多家實驗室，具備權威的CMA、CNAS檢測資質。校準時間短，費用低。硅片測試校準周期10-15天出具檢測報告。
檢測周期： 10-20天
檢測范圍：全國
檢測報告：中英文
檢測標準：國際、國標
取樣方式：支持全國上門取樣
免費熱線：400-1017153
硅片測試范圍
單晶硅片，太陽能硅片，光伏硅片，半導體硅片，切割硅片，鍍膜硅片，清洗硅片，拋光硅片等。
硅片測試項目
電阻率測試，翹曲度測試，厚度測試，表面粗糙度測試，燃燒測試，彎曲度測試，平整度測試，絨面反射率測試，碳氧含量檢測，壓電系數測試，ECV測試，負載測試，硬度測試，抗彎強度測試，晶圓測試，表面雜質測試，表面有機物測試，少子壽命測試，顆粒度測試，表面接觸角測試等。
硅片測試
硅片測試標準
GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片
GB/T 26068-2018 硅片和硅錠載流子復合壽命的測試 非接觸微波反射光電導衰減法
GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法
GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技術 基于SOI硅片的MEMS工藝規范
GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試自動非接觸掃描法
GB/T 32281-2015 太陽能級硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測定 二次離子質譜法
GB/T 30859-2014 太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法
GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法
GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化 測試方法
GB/T 30701-2014 表面化學分析 硅片工作標準樣品表面元素的化學收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法
GB/T 6616-2009 半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法 非接觸渦流法
GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法
GB/T 6619-2009 硅片彎曲度測試方法
硅片測試檢測報告辦理流程：
*步：在線咨詢檢測機構
第二步：發起質檢申請
第三步：寄送樣品
第四步：出具報告
百檢網平臺服務質量承諾
行為公正: 自覺遵守公正性聲明。
方法科學: 遵循科學求實原則，嚴格按照規定的方法從事校準工作。
結果: 證書規范嚴謹、數據可靠。
工作: 根據實際情況和客戶需求，不斷改進業務流程，確保校準工作在承諾的時間內完成。
收費合理: 校準費用不高于國家及省、市物價部門批準的收費標準，不高于同行平均水平。
客戶滿意: 主動了解客戶需要, 提供服務, 及時受理和處置客戶的投訴，提供快捷、方便的后續服務
百檢網專業的第三方高分子材料檢測機構，有各種高分子材料，硅片測試檢測需求及詳情免費咨詢機構在線顧問：400-101-7153，做檢測上百檢網 www.www-18484.com-出具權威檢測報告具有法律效力。
